ATE-Interface-Produkte
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| Xandex
entwickelt und fertigt Test-Interface- und hochpräzise
Docking-Systeme für Automatische Testsysteme (Automated Test
Equipment - ATE). Die während der Wafer-Sortierung und bei
Gehäusetests eingesetzten Xandex-Lösungen
für Übertragungsleitungen wurden speziell für die
Signalübertragung im Gigahertz-Bandbreitenbereich bei
Halbleiter-Probing-Anwendungen entwickelt. Xandex
kann auf mehr als 20 Jahre Erfahrung bei der Konstruktion und
Herstellung von Produkten für Halbleiter-Testumgebungen und bei
der Entwicklung von Interface-Lösungen zurückblicken, die den
Leistungsanforderungen heutiger und zukünftiger ATE-Plattformen
gerecht werden und diese bei weitem übertreffen. |
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ATE-Übertragungsleitungslösungen
(Englisch)
Qualitativ hochwertige Digital-, Analog-, HF- und
Strom-/Versorgungs-Koaxialkabelmodule, Komponenten und
Probing-Module für ATE-Interfaces. |
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Vakuum-Interfacing
(Englisch)
Die
Vakuum-Interface-Technik von Xandex ermöglicht eine bisher nicht
gekannte Wiederholbarkeit und Parallelität beim Wafer-Probing. |
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Prober-Tester-Interfaces
(Enclisch)
Hervorragende elektrische und mechanische Eigenschaften, die
speziell für eine Vielzahl von Tester-Plattformen entwickelt
wurden. |
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Docking-Systeme
(Englisch)
Prezisionsausrichtung
von Testköpfen. |
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Probecard-/Load
Board-Modul (Enblisch)
Austauschbares
Load Board, Interface und Probecard im ultraflachen Gehäuse. |
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